SWTW(Semiconductor Wafer Test Workshop)にてFatProbe発表


2008年6月にSan DiegoにてSemiconductor Wafer Test Workshopが開催された。ここではプローブカード等のウェハーテストに関する新しい研究・実験結果を発表をする。色々な発表がある中、月曜日3時からITC社Steve Clauterとティアテック 鵜飼太一のFatProbeシステムのKeyTechnology「CurrentLimitter」に関する合同プレゼンが行われた。
※テクニカルプログラムの中でTiatechがTaitechとミススペルされていますが・・・ (-_-;)
その時のレポートを今回は紹介する。
2008年6月

 

プレゼンはカンファレンスルームで400人以上の参加者の中で行われた。 プレゼンテーションは2つのスクリーンを同時進行し、立ち見も端々に見られた。 内容はとても狭く、テストフロアーからのマニアックな人間が沢山集まっている学会だ。

プレゼンテーションのタイトルは Real-world Avalanche testing of single-die, wafers, Hybrid Modules, and Packaged Device.つまり、「ウェハーやシングルダイ、ハイブリッドモジュール、パッケージでのアバランシェテストの現実」という感じだ。

 


発表はとてもうまく行き、無事に終了した。嬉しい事に【Best Presentation】の賞も頂いた。これはとても嬉しいお土産だ。これだけ沢山あるプレゼンの中から、BESTを取れるのはそうそうない機会だ。

 


筆者(鵜飼)とSteveの二人で得た賞、両社笑顔

 


ITC社の副社長、Rod Schwartz氏も笑顔だ

右の写真はITC社内にて今回発表をしたFatProbeコアテクノロジーCurrent Limitterの実験をしている風景

このカレントリミッターは大電流の測定をプローブカードを用いて測定すると言う技術。通常は針が溶けたりスパークしたりと問題の多いが、それを保護するのが最大のポイント。実際には電流の制御だけではなく、電圧の制御も同時にする必要がある。

プレゼンテーションはここからダウンロードしてもらいたい。

 

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